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X射線熒光分析儀特點

 更新時間:2018-06-04 點擊量:1720
  X射線熒光分析儀的不斷完善和發(fā)展所帶動的X 射線熒光分析技術(shù)已被廣泛用于冶金、地質(zhì)、礦物、石油、化工、生物、醫(yī)療、刑偵、考古等諸多部門和領(lǐng)域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質(zhì)的化學元素、物相、化學立體結(jié)構(gòu)、物證材料進行試測,對產(chǎn)品和材料質(zhì)量進行無損檢測,對人體進行醫(yī)檢和微電路的光刻檢驗等的重要分析手段,也是材料科學、生命科學、環(huán)境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經(jīng)濟的多元素分析方法。同時,X 射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面儀器之一。
  X射線熒光分析儀產(chǎn)品特點
  1、在測定微量成分時,由于X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響,此熒光分析儀配置了4種可自動切換的濾光片,有效地降低了背景和散射X射線的干擾,調(diào)整出感度的輻射,進一步提高了S/N的比值,從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
  2、X射線管的連續(xù)X射線所產(chǎn)生的散射線會產(chǎn)生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結(jié)果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
  3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由此產(chǎn)生了重疊峰SCIENSCOPE自行開發(fā)的軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
  4、逃逸峰:由于采用的是Si針半導(dǎo)體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產(chǎn)生一個峰,此峰即為逃逸峰。
  5、在電壓不穩(wěn)的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
  
X射線熒光分析儀及售后服務(wù)  
  1、 為客戶免費提供操作培訓(xùn),培訓(xùn)期一至三天。
  2、 整機保修二年,全國聯(lián)網(wǎng)售后保修,并終身提供技術(shù)服務(wù)支持。
  3、 保修期內(nèi)的非人為因素儀器損壞,免費維修。標準響應(yīng)時間:4小時響應(yīng),上門服務(wù)時間48小時,24小時。
  4、 免費提, 供軟件升級服, 務(wù)。, <, , o:p>,


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